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期间核查的设备、要求、考虑因素和核查方法

发表时间:2023/11/21 00:00:00  浏览次数:111  
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期间核查的设备、要求、考虑因素和核查方法


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需要期间核查的测量设备

测量设备的期间核查仅针对A类和B类设备,目的是保持设备性能的可信度。 并不针对C类设备
设备A、B、C类分类标准, 测量设备的分类原则
建议实验室对测量设备进行分类管理, 按照其使用情况、技术特性(如稳定 性)和对检测结果及其不确定度的重要程度, 进行分类, 并建立不同的管理要求。 本文件将测量设备分为 A、B 、C 三类,作为分类管理的示范。

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A 类测量设备

测量设备根据相关法规,属于强制检定管理的计量器具和设备, 属于A类测 量设备。
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B 类测量设备

满足以下条件的测量设备,属于B类测量设备:
a)直接用于测量被测量的设备;
b)用于修正测量值的设备;
c)用于从多个测量值计算获得测量结果的设备;
d)对检测结果的有效性和不确定度有显著贡献的设备。

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C 类测量设备

A、B类之外的测量设备,通常都属于C类测量设备,公众号提醒您, C类测量设备一般具有以 下特点:
a)使用一般工作计量器具(如钢直尺、卡尺、工作用玻璃液体温度计等) 即可校准或核查其计量性能的仪器;
b)虽然具有明确的技术要求,但不是测量仪器的设备,如样品前处理用的 振荡、粉碎、过滤、切割等功能, 以及振荡器、烘箱(对温度和精度无要求的辅 助性设备)、氮吹仪、旋转蒸发仪等;
c)对检测结果的不确定度贡献很小的设备;
d)对检测结果的有效性几乎没有影响的设备;
e)无量值要求的辅助测量设备。

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设备期间核查的基本要求

期间核查是测量设备校准或核查后对其测量功能和性能的核查, 其目的是为 了维持设备的性能和状态。
实验室可根据测量设备的稳定性、期间核查的成本、 风险、核查标准的可获得性、校准周期的长短等因素来确定进行期间核查设备的 范围及核查频次。
测量设备实验室应制定期间核查计划, 并针对具体的设备或计量参数的各自 特点,从经济性、实用性、可靠性、可行性等方面综合考虑制定具体的期间核查 作业指导书。
期间核查计划和记录统一归档保存。
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确认期间核查设备需要考虑的因素

a)使用频繁;
b)检定或校准周期较长(如≥2年);
c)使用环境严酷或使用环境发生剧烈变化;
d)使用过程中容易受损、数据易变或对数据存疑的;
e)脱离实验室直接控制后返回的;
f)稳定性差的设备;
g)近几次连续校准数据趋势不良的设备。
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设备期间核查方法

a)校准核查法
实验室具有被核查测量设备校准用的标准仪器, 则可选常用的测量点对其进 行校准核查。当核查点的测量结果不超过测量设备的最大允许误差时, 则核查通 过。
b)参考值核查法 采用参考值为Xref 
稳定性较好的核查标准(如标准样品) ,用被核查设备
对核查标准进行测量得到测量值为Xlab ,被核查设备的最大允许误差为δ , 若 Xlab  - Xref   < δ ,则核查通过。
c)设备比对法
如果实验室有准确度相当的同类n(n≥3)台(套) 测量设备, 可以采用设备 比对法。即用多台同类测量设备测量同一稳定样品,进行结果评价。

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